SIR (Surface Insulation Resistance) 通常用來(lái)作電路板的信賴性試驗(yàn)，其方法為在智能機(jī)器人線路板上將成對(duì)的電極交錯(cuò)連接成梳形電路，并印上錫膏，然后在一定高溫高濕的環(huán)境下持續(xù)地給予一定偏壓，經(jīng)過(guò)一定長(zhǎng)時(shí)間的試驗(yàn)(24H,48H,96H,168H) 觀察線路間是否有瞬間短路或出現(xiàn)絕緣失效的緩慢漏電情形發(fā)生。

  這個(gè)試驗(yàn)也有助看出助焊劑或其他化學(xué)物品在智能機(jī)器人PCB板面上是否有殘留任何會(huì)影響電子零件電氣特性的物質(zhì)。一般我們使用這個(gè)方法來(lái)量測(cè)靜態(tài)的表面絕緣電阻(SIR)與動(dòng)態(tài)的離子遷移現(xiàn)象，另外，它也可以拿來(lái)做CAF(Conductive Anodic Filament，導(dǎo)電性細(xì)絲物，陽(yáng)極性玻纖纖維之漏電現(xiàn)象)試驗(yàn)。

  注：CAF主要在測(cè)試助焊劑對(duì)PCB板吸濕性及玻璃纖維表面分離的影響。

  表面絕緣電阻(SIR)被廣泛用來(lái)評(píng)估污染物對(duì)組裝件可靠度的影響。跟其他方法相比，SIR的優(yōu)點(diǎn)除了可偵測(cè)局部的污染外，也可以測(cè)得離子及非離子污染物對(duì)智能機(jī)器人線路板可靠度的影響，其效果遠(yuǎn)比其他方法(如清潔度試驗(yàn)、鉻酸銀試驗(yàn)... 等)來(lái)的有效及方便。

  由于現(xiàn)在的電路板布線越來(lái)越密，焊點(diǎn)與焊點(diǎn)也越來(lái)越近，所以這項(xiàng)實(shí)驗(yàn)也可作為錫膏助焊劑的可用性評(píng)估參考。

  Comb Pattern,梳形電路是一種多指狀互相交錯(cuò)的密集線路圖形，可用在板面清潔度、綠漆絕緣性等進(jìn)行高電壓測(cè)試的一種特殊線路圖形。

  SIR 量測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：IPC-TM-650

  ▼SIR實(shí)驗(yàn)用的測(cè)試板，一片板子有四組成對(duì)的電極交錯(cuò)連接成梳形圖案

  ▼單獨(dú)把一組SIR實(shí)驗(yàn)用成對(duì)的電極交錯(cuò)連接成梳形圖案放大圖

  量測(cè)SIR時(shí)要在梳形圖案上印上錫膏，然后垂直放入已印有錫膏的SIR測(cè)試板并置于環(huán)境試驗(yàn)機(jī)中，還要在其正負(fù)極加上45~50VDC的偏壓，環(huán)境實(shí)驗(yàn)的條件如下：

  85+/-2℃+20%RH 3小時(shí)

  至少15分鐘

  85+/-2℃+85%RH至少1小時(shí)后開(kāi)始加50VDC偏壓

  24小時(shí)后用100VDC量測(cè)SIR值

  再24小時(shí)后用100VDC再量測(cè)SIR值(共48小時(shí))

  再48小時(shí)后用100VDC再量測(cè)SIR值(共96小時(shí))

  再96小時(shí)后用100VDC再量測(cè)SIR值(共168小時(shí))